在半导体和纳米技术等领域的研究与测试中，精准且多功能的源测量单元至关重要。鼎阳科技推出的 SMM3000X 系列源测量单元，以其卓越的性能、丰富的功能和便捷的操作，成为科研人员和工程师在相关测试工作中的得力工具。

SMM3000X 系列具备 6½ 位的高精度显示（2,100,000 count），最小编程及测量分辨率可达 10fA / 100nV，能够精确输出并测量微小的电压和电流信号。在半导体器件的研发中，对微弱电流和电压的精准测量十分关键，该系列产品可满足这一需求，为研究人员提供可靠的数据支持。其最大输出为 ±210V/3.03A/31.8W，且在脉冲模式下，能输出高达 ±10.5A 的脉冲电流，最小脉宽仅 50μs ，这一特性使其能够精准模拟功率器件的瞬态工况，如在氮化镓（GaN）、碳化硅（SiC）等新型功率半导体器件的开关损耗测试中发挥重要作用。通过模拟这些器件在实际工作中的瞬间大电流变化，帮助工程师更准确地评估器件性能，优化设计方案。

该系列支持直流、脉冲、扫描及列表输出多种模式。线性 / 对数扫描功能可依据用户预设的起始点、终止点和步进值，逐点输出电压或电流，并自动测量记录每个点的值。在测试二极管、晶体管等半导体器件的导通特性时，研究人员可以利用此功能快速获取器件在不同工作点下的性能数据，绘制出精确的特性曲线，为器件的性能分析和优化提供依据。列表模式则允许用户自定义输出序列，最小间隔可达 10μs，参数变化灵活多样，无论是线性、非线性，还是任意值或自定义顺序都能实现。这一功能适用于复杂的、不规则的电压 / 电流变化测试，如模拟电子产品在不同工作状态下的供电情况，全面检测产品在各种工况下的性能表现。

SMM3000X 系列的数据可视化分析功能也十分强大，提供 Graph 视图、Roll 视图和测量结果视图等多种模式。Graph 视图可实时绘制数学运算结果的曲线，帮助用户直观地观察数据变化趋势；Roll 视图用于显示测试数据的时域波形，能清晰呈现信号随时间的变化情况；测量结果视图则提供迹线统计结果，方便用户对大量测试数据进行分析总结。在对一系列半导体器件进行批量测试时，通过不同的视图模式，用户可以从多个维度对测试数据进行分析，快速筛选出性能异常的器件，提高测试效率和准确性。

在通信和控制方面，SMM3000X 系列基于先进的 SCPI 命令集，支持通过 USB、LAN 接口与计算机通信。用户既可以通过网页 Web Server 轻松实现远程操控，也能结合 SCPI 命令进行深度自定义编程，满足多样化的测试需求。利用 Socket 通信技术，通过 TCP/IP 协议还能与仪器进行网络交互，进一步拓展了远程测试与控制的方式。在一些对测试环境有特殊要求，如高温、高压或高辐射的场景中，研究人员可以在安全区域通过远程控制完成测试操作，避免受到环境因素的影响，同时也提高了测试的便利性和自动化程度。

与市场上同类型产品相比，SMM3000X 系列在多个关键性能指标上表现出色。在脉冲特性方面，其最大脉冲电流和最小脉宽与部分竞品相当，但在价格上更具竞争力，起售价仅为 38,680 元。在功能方面，它集成了多种实用功能，如高电容模式、Delta 低电阻测试等，为复杂的测试场景提供了更多解决方案。

在标配附件上，SMM3000X 系列提供了 USB 数据线、电源线、快速指南、连接线以及无线鼠标。USB 数据线用于仪器与 PC 通信，实现数据传输和远程控制；电源线符合不同国家的标准，满足全球用户的需求；快速指南帮助用户快速上手操作；连接线根据不同型号配置相应数量，方便连接测试设备；无线鼠标则提升了用户的操作体验。此外，用户还可根据需求选配 USB - GPIB 适配器，将仪器的 USB 接口扩展成 GPIB 接口，进一步增强仪器的通信和控制能力。

鼎阳 SMM3000X 系列源测量单元凭借其高精度测量、多样化输出模式、强大的数据可视化分析和便捷的远程控制功能，在半导体特征分析、纳米级器件和材料测试等领域具有广阔的应用前景。无论是科研机构进行前沿技术研究，还是企业在生产线上进行产品质量检测，该系列产品都能为用户提供稳定、可靠的测试支持。随着相关技术的不断发展，相信 SMM3000X 系列将持续优化升级，更好地满足行业日益增长的复杂测试需求。

关键词:鼎阳科技 SMM3000X 系列 源测量单元

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来 源：仪商网

编辑：Jane

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