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优利德新品 | VNA5000系列矢量网络分析仪,精准覆盖通信系统关键测试节点

来源:优利德测试仪器 发布时间:2026-10-23 编辑:清风 浏览量:16

VNA5000系列是优利德面向300kHz到22GHz/14GHz频段推出的矢量网络分析仪,提供2和4端口两种选择。它的核心任务是把测试能力推进到22GHz,同时通过4端口机型解决多端口器件、平衡器件和复杂网络的测量问题,主要面向射频器件、组件的研发和生产测试场景。


核心指标

VNA5000系列矢量网络分析仪可满足低频器件、移动通信频段,以及更高频段的测试需求。全系支持全双端口S参数测量,4端口机型进一步支持多端口器件、平衡器件和复杂网络,既可以做高分辨率扫描,也可以满足产线吞吐需求。

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  • 动态范围:>128dB(典型值)

  • 测量点数:2~20001

  • 迹线噪声:<0.015dBrms

  • 扫描速度:40μs/points

  • 频率分辨率:1Hz

  • 频率准确度:±1ppm(5℃ 到 40℃)

  • 中频带宽:10Hz~5MHz


主要功能


01

S参数测量



VNA5000系列支持完整的4端口S参数,从S11到S44共16个。绝对功率测量方面,2端口机型有4个独立接收机,支持8种绝对功率测量模式;4端口机型有8个独立接收机,支持32种绝对功率测量模式。数据格式方面,提供直角坐标、极坐标图和史密斯图三类显示方式。

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02

校准能力



VNA5000系列可完成开路、短路、直通响应校准,增强响应校准,1端口校准,全2端口校准,全3端口校准,全4端口校准,支持多种标准校准件。

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03

夹具仿真器



产品网络去嵌入功能通过2端口Touchstone数据文件,移去校准面和DUT之间的电缆、测试夹具等网络。端口参考阻抗转换功能,把50Ω下测得的测量值转换为任意端口阻抗下的测量值。匹配电路嵌入支持五种预定电路模型,也支持用户文件定义。4端口网络嵌入/去嵌入功能,通过4 端口Touchstone 数据文件,把所需4端口网络的数据添加或去除,支持布局 A、B、C 三类连接。端口延伸则通过为单端端口设置电延迟来移动校准参考位置。

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04

平衡设备评估



VNA5000系列支持SE-Bal、Bal-Bal、SE-SE-Bal、Bal布局。通过平衡-不平衡转换,可以使用混合模S参数和不平衡参数进行测量。差动端口阻抗转换功能中,差模端口阻抗被设置为转换前两个不平衡端口阻抗值的两倍;共模端口阻抗则被设置为该值的一半。差动匹配电路嵌入支持并联 L-并联C模型和用户文件。要评估平衡设备,需要一台至少有三个测试端口的VNA5000系列仪器,这也是4端口机型的重要价值所在。

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05

测量结果分析



VNA5000系列每条迹线最多可放置16个光标和1个参考光标。光标搜索支持最大值、最小值、目标值、峰值和带宽搜索。带宽测试用于测试带通滤波器的带宽;极限测试允许为每条迹线设置极限线,进行合格/不合格判断;纹波测试最多可以指定12个频带。时域变换支持带通和低通两种类型,可以模拟脉冲信号和阶跃信号的响应。

06

数据输出



VNA5000系列支持四种保存类别:仅状态、状态和校准数据、状态和迹线、状态、校准数据和迹线。可以保存到Touchstone文件,支持.s1p ,.s2p,.s3p,.s4p。数据格式包括线性幅度-角度、对数幅度-角度、实部-虚部。迹线数据可以保存为CSV文件。截屏方面,通Dump Screen Image To File功能,可以把当前屏幕保存为BMP或PNG图片文件,方便存档和报告使用。此外还提供打印输出,包括直接打印机输出和保存文件输出。

 

行业应用场景

VNA5000系列适用于AI数据中心高速互连、算力中心硬件验证、相控阵天线暗室 L/S/C/X 频段等测试场景,覆盖射频器件、多端口组件、平衡器件从研发调试到批量生产的全流程测试。





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