光电传感器表征专家光焱科技（Enlitech）日前推出全球第一套商业标准化的最新型单光子探测器 (SPD, Single Photon Detector) 特性测试分析设备SPD2200。光焱科技整合了所有先进光学与电学系统，提供完整与便利的软件控制接口与分析功能，助力客户加速直接飞行时间（dToF）单光子雪崩二极管（SPAD）产品的开发周期，提升竞争力。

测试分析

SPD2200具备的全光谱性能测试包含：

- 全光谱光谱响应 (SR, Spectral Responsivity)

- 全光谱量子效率 (EQE, External Quantum Efficiency)

- 全光谱光子探测率 (PDP, Photon Detection Probability)

- 暗计数DCR (Dark Count Rate)

- 崩溃电压BDV (Break-Down Voltage)

在不同电压下，SPAD光子探测效率的PDE光谱

SPAD的暗计数与偏压关系图

SPAD暗计数与崩溃电压

SPD2200亦能够测试SPD的单光子辨析特性分析，包含：

- Jitter

- Afterpulsing probability

- Diffusion tail

- SNR

SPAD的Jitter测量

适用范围

SPD2200适用各种传感器测试分析，包含：

- SPAD

- SPD (Single Photon Detector)

- SiPM (Si PhotoMultiplier)

- MPPCs (Multi-Pixel Photon Counter)

- dToF Light Sensor

- LiDAR Sensor

- Wafer Level SPAD

关键词:Enlitech SPD特性测试分析设备

浏览量：4004

来 源：光焱科技

编辑：仪器仪表WXF

声明：凡本网注明"  来源：仪商网"的所有作品，版权均属于仪商网，未经本网授权不得转载、摘编使用。
经本网授权使用，并注明"来源：仪商网"。违反上述声明者，本网将追究其相关法律责任。
本网转载并注明自其它来源的作品，归原版权所有人所有。目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性，不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如有作品的内容、版权以及其它问题的，请在作品发表之日起一周内与本网联系，否则视为放弃相关权利。
本网转载自其它媒体或授权刊载，如有作品内容、版权以及其它问题的，请联系我们。相关合作、投稿、转载授权等事宜，请联系本网。
QQ：2268148259、3050252122。