EMI预兼容测试选件

几乎任何用于销售电子产品都需进行电磁兼容性（EMC）测试，必须确保产品符合监管机构规定的规格标准。

EMC测试必要性

联邦通信委员会（FCC）规定了电磁兼容性测试的规则。CISPR和IEC测试定义也在全球范围内被广泛使用。全面的合规性测试可能很昂贵，对产品进行全面合规性测试还需要专门的测试环境。如果在合规性测试中发现任何问题，设计人员需要回到工程部门进行分析和可能的重新设计。这可能会导致产品发布延迟和设计成本明显增加。

EMI预兼容测试方案

作为EMC测试的一部分，EMI测试在产品设计早期阶段的介入是必要的。

以OWON的方案为例，主要由

1、OWON全系列频谱分析仪

2、EMI选件

3、ORF5060近场探头

提供了快速预兼容测试系统方案。通过近场测量可以很方便的进行定性的诊断测量，发现电磁辐射大的区域，对潜在的问题进行定位。

1. OWON频谱分析仪

OWON全系列频谱仪具有便捷的操作界面和简洁的显示风格，采用成熟的数字中频技术，最小分辨率带宽(RBW)低至 1Hz，标配前置放大器，显示平均噪声电平(DANL)达-161 dBm/Hz，具备微小信号测量能力，全幅度精度<0.7 dB，测量结果精确可信。

2. EMI预兼容测试软件

OWON频谱分析仪可通过仪器升级获得

EMI预兼容测试软件！！！

EMI模式包含扫描、测量、计量三个流程，可以灵活配置流程。EMI测量模式提供了完整的CISPR限值和检波器，包括准峰值、峰值、有效值平均。工程师可加载EMI 国际标准法规限制线，用户也可以自定义限制线。还可以使用标准EMI分辨率带宽(200 Hz、9 kHz、120 kHz和1 MHz)。

EMI 滤波器仍是准高斯形状，只是其脉冲带宽定义为-6dB，相比于传统的高斯滤波器具有更好的频率选择性。准峰值检波是一种快速充电，慢速放电的检波器，时间加权的检波方式，它将时间上间断出现的干扰信号进行幅度的加权平均作为结果显示。

这样即使幅度很大但是出现概率很低的干扰信号可能得到较低的准峰值检波结果，而幅度很小但是出现概率很高的干扰信号也有可能得到较高的准峰值检波结果，这种加权比较适合电子设备对干扰信号的反应。但是准峰值检波的平均过程测试时间长，并不利于日常的诊断。

因此在进行 EMI 预兼容测试时，可以先用峰值检波快速发现 EMI 问题频点，然后针对这些峰值点专门进行准峰值测量，以节省测试时间。

（EMI界面）

（内置国际标准法规限制线）

选择EMI模式可在仪器上通过触摸屏、鼠标和键盘进行操作。这使报告存档、扫描运行以及跳转到感兴趣的信号并立即调试变得容易。右侧条形显示给定频率的实时测量值。此程序可在扫描后快速移动到感兴趣的信号，它可以在频率上实时测量最多3个检波器的数据，为调试和进一步分析提供便捷。

3.ORF近场探头

对于辐射发射，使用近场磁性（H场）探头拾取通过探头末端小环路传播的发射。这些磁性探头只能捕获探头附近的信号，因此被称为“近场”探头。这使得它们非常适合基本的可视化，因此工程师可以通过将探头扫过区域快速扫描新的电路板或外壳来查找问题。较大的探头虽能提升扫描速度，但相应的空间分辨率会有所降低。

在此过程中，探头充当天线角色，负责捕获接缝、开口、引脚及其他可能产生RF辐射的元件所释放的信号。为确保测试的全面性，对所有电路元件、连接器、旋钮、箱体开口及接缝的彻底扫描是不可或缺的。通常对于此类EMI可视化测试，无需使用屏蔽室或屏蔽装置，因为探头主要记录的是极为接近的信号。工程师可通过调整探头的方向及位置，来识别发射源。

（天线补偿参数）

内置针对天线，LISN，电缆的频响补偿，可选择对应的天线，用户也可自定义频响补偿。通过OWON的EMI方案可以简便快速预兼容测试，这会最大限度地减少产品开发时间，降低设计成本。

ORF5060 近场探头

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关键词:EMI预兼容测试 选件

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来 源：owon利利普

编辑：清风

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