随着信息技术的不断发展和网络带宽需求的不断提升，下一代路由交换及数据中心设备需要支持更高的速率（≥200Gbps）以及与之对应的信号调制模式（PAM4），这也对以太网误码测试仪表提出了更高的要求。

中电科思仪科技股份有限公司基于5233D高速误码测试仪可以提供全套的误码测试解决方案。5233D主要用于光模块的误码性能测试，支持RS232和以太网远程控制，具有比特误码测试、误码率眼图、电压拉偏、预加重控制、幅度控制、温度与功耗监测及DDM监视功能。端口速率覆盖100Mbps～400Gbps，支持NRZ和PAM4误码测试，适合于多种光模块的研制和生产测试。

5233D通过控制光模块信号，实现光模块电信号测试或异常仿真，满足光模块功能检测和光模块可靠性检测需求。整机系统由机框，功能板与接口板组成。功能板与接口板组成一个单板系统，单板系统独立工作。功能板用来实现测试功能，接口板提供与光模块的接口，功能板和接口板模块化分离，可按需组合，支持多种类型光模块的测试。

5233D可以自动识别光模块种类并进行控制，包括SFP（SFP+/SFP28）、QSFP（QSFP+/QSFP28/QSFP56）、CSFP、CXP、DSFP、SFPDD、QSFPDD、OSFP、CXP3支持按端口和通道进行误码测试，可以为光模块提供电源和电压拉偏控制，同时支持命令式远程控制，适合定制自动化测试。

5233D误码测试仪的典型应用包括以下几个方面：

一、比特误码测试

5233D支持按端口或通道进行误码测试，并上报测试结果。

二、眼图分析

5233D可按端口或通道返回眼高、眼宽等信息。

三、光模块控制及信息查询

5233D可对光模块单独操作，包括上电、掉电、发光、复位等，可显示光模块状态、光模块I/O信号、光模块告警信息以及寄存器信息等。

5233D高速误码测试仪已成功应用于通信、网络靶场、科研教学等众多领域，助力科研、生产、测试、维保等多个环节，为信息船速和系统与设备提供先进的测试保障。

关键词:5233D误码测试仪 高速光模块 测试

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来 源：电科思仪

编辑：清风

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