经济型频谱仪新功能,助力测试效率提升--4042新增矢量信号分析、相位噪声测试、EMI分析等功能
发布日期:2024-09-09 11:41

4042系列频谱分析仪是思仪科技2023年推出的开阳星系列经济型测试产品,旨在提供高性价比的测试解决方案。思仪科技坚持“以顾客为中心,超越顾客期望“的理念,通过持续提升产品功能,为助推用户开启创新创业、提升测试的战斗力。此次全新增加矢量信号分析、相位噪声测试、EMI分析等多种测量功能,可满足多种场景测试需求,是追求高性价比频谱仪客户的不二之选。


图1 4042系列频谱分析仪


1.全新增加矢量信号分析功能选件


传统的扫频分析只能进行功率和频率测量,无法测量数字信号的信号质量。数字调制信号的低成本高效测量是目前众多用户的痛点。4042系列频谱分析仪可提供最大带宽40MHz的矢量信号分析功能,可对PSK、FSK、MSK、QAM等多种通用单载波数字调制信号进行时域、频域和调制域的联合信号分析,并可提供EVM、矢量图、星座图、频谱图等丰富的测试结果。4042系列频谱分析仪内置参考信号生成功能,可对测量信号的调制质量和调制误差进行分析,并辅助诊断增益不平衡、正交误差等信号问题,可帮助用户解决数字信号发射机的信号质量测试问题。


图2 矢量信号分析界面


2.全新增加相位噪声测试功能选件


相位噪声测量主要用于确定本振、混频器和放大器等射频组件的短期频率稳定性。如何快速准确的测量相位噪声,加快用户调试速度是开发此功能的初衷。4042相位噪声测试功能提供单边带相位噪声曲线和单点相位噪声测试的一键式测量方法,可快速地完成发射机的相位噪声指标测试,帮助用户提高测试效率。


图3 相位噪声测试界面


3.全新增加EMI分析功能选件


在电子产品的新产品研制过程中往往需要通过电磁兼容性认证,而EMC的认证费用高且认证周期长,用户往往难以承受,因此降低研发成本、提高认证测试一次性通过率是用户的迫切需求。4042系列频谱分析仪的 EMI分析功能选件可以协助用户进行电磁兼容预测试,及早发现EMI问题并采取对策,该选件具有准峰值、CISPR平均值、CISPR有效值等检波方式,搭配近场探头可完成印制板、部件、整机的电磁兼容预测试,提高认证测试的通过率,为客户大幅节省测试时间和成本。


图4 EMI分析测试


4.全新增加上架套件选件


根据需求搭建专用测试系统便于测试仪器的集成,是部分用户提高研发与生产调试的便捷性与高效性的迫切需求。4042系列频谱分析仪新增6U标准上架套件选件,可实现标准机箱的完美嵌套,同时可提供程控函数库供用户进行快速二次开发,方便用户系统集成,满足实验室或者工业环境中的系统集成测试需求。


图5 上架套件图片


4042系列频谱分析仪在性能方面具有优异的相位噪声、灵敏度及扫描速度,功能方面具备实时频谱、矢量信号分析等多种测量功能模式,具有较高的性价比,无论是在产线、实验室、现场测试中都能轻松驾驭,可为用户的频谱测试提供比较完善的低成本高效率解决方案。

关键词:频谱仪 4042系列频谱分析仪
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来 源:思仪科技
编辑:清风
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