2025年3月11日，全国半导体器件标准化技术委员会（SAC/TC 78）在广州召开5项半导体器件领域国家标准启动会，会议由我所牵头承办。重点实验室陈义强研究员代表承办单位致辞。中电十三所、五十五所、五十八所、之江实验室、芯派科技、浙江大学、平湖实验室、天林石无二电子有限公司等企业专家、编制单位代表等80人参加了会议。

会上，全国半导体器件标准化技术委员会分立器件分技术委员会秘书长陈海蓉代表秘书处致辞，并为5项国家标准项目的主编单位颁发荣誉证书。

会议邀请秘书处张丽静针对标准编制要求进行了培训，加深编制组对标准编制流程和要求的理解。

会议通过分组讨论的方式，针对标准现状、任务分工、草案讨论等事项进行深入交流与探讨，为标准的编制工作奠定了坚实基础。

此次会议，促进了企业、高校、科研机构之间的合作与交流，为后续标准的验证与实施奠定了良好基础。通过培训，编制组成员对标准编制要求有了更深入的理解，为高效编制标准提供了保障。

关键词:GaN可靠性试验 国家标准

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来 源：赛宝视窗

编辑：清风

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