ADI携仪器仪表测量等硬核方案闪耀慕尼黑上海电子展
发布日期:2025-04-17 11:24

春意盎然的上海,全球电子行业的目光再次聚焦于新国际博览中心。2025慕尼黑上海电子展在此盛大启幕,ADI 无疑是展会最受瞩目的焦点之一。



面对工业自动化升级、汽车架构革新及智能连接普及带来的严苛挑战,ADI以一系列创新的现场演示,为智能驾驶、智慧座舱、工业数字化、过程自动化、机器人、电源管理及仪器仪表测量等前沿应用,提供克服系统级挑战、加速创新落地的核心方案,展现了ADI深厚的技术积累和对市场趋势的精准把握。


仪器仪表测量方案 驱动精密测量的技术前沿


随着半导体工艺的不断进步和无线通信频率的持续攀升,以及新材料等领域的发展,对测试测量仪器的精度、速度、带宽和集成度提出了新的要求。ADI在此领域展出的一系列高性能模块和方案,帮助客户解决棘手的测量难题。


面对日益复杂的射频/微波系统测试需求,基于ADL5960的8端口VNA参考设计提供了紧凑型、低功耗的解决方案,能够实现高达20GHz的精确S参数测量,满足多端口器件表征的需求。

精准的信号源和采集是测试的基础,ADMX100x采用专有数字预失真(DPD)算法,实现了极低的谐波失真(THD),可生成和测量高保真信号,适用于高端音频、通信等测试场景。

在元器件表征、材料分析等领域,精确的阻抗测量不可或缺,精密阻抗测量分析模块ADMX2001采用混合信号算法,具备微小电容变化检测和高电阻值测量能力,可以满足各类精密测试的需求。



源测量单元(SMU)是半导体测试的核心设备,ADMX3001集成了数字PID控制算法,可精确设置输出电平并进行钳位,同时提供和测量高压下的电压和电流,支持复杂的器件特性分析。

作为基础测量仪器,数字万用表的精度至关重要,ADI展示的七位半DMM方案,凭借高精度模拟前端和先进数字化架构,实现了小于1ppm非线性度的出色测量分辨率和精度,是校准实验室和高端测试系统的理想选择。



2025慕尼黑上海电子展热力全开!ADI携硬核技术点燃现场。同时,ADI 多位资深技术专家齐聚现场,围绕汽车智能化、工业数字化、电机驱动、仪器仪表测量、人形机器人等热门议题展开干货分享,既有对行业趋势的解读,也有落地方案的解析,为到场观众呈现一场技术与思维的双重盛宴。



精密仪器仪表方案,加快客户产品上市


在当前快速发展的市场环境下,加速产品开发和上市周期对客户至关重要。ADI深刻理解客户面临的挑战,致力于提供超越单个芯片的完整信号链及系统级解决方案,ADI仪器仪表事业部高级市场经理姜海涛展示了ADI在仪器仪表领域为加速客户开发进程而推出的四款核心解决方案。


首先是紧凑型阻抗测试分析模块,该模块集成了高性能硬件与复杂的校准、补偿算法,提供了一个“即插即用”的系统级方案。用户可轻松获取从直流到10MHz宽频率范围的高精度阻抗测量结果,适用于多领域阻抗测量场景,包括电池、半导体器件、电阻、电容、电感等被动器件测量,显著简化了测试系统的集成与开发。


其次是超低失真信号源模块 (ADMX1001/1002)。该方案基于业界领先的20位DAC,实现了极低的失真度和高稳定性,1kHz时THD可达-130dBc。输出带宽覆盖0-40kHz,并可通过DAQ方案扩展。作为一个系统级模块,它为需要精密、干净信号源的应用,如高精度ADC测试、音频分析提供了便捷、高性能的选择。


第三个是低延迟数据采集DAQ解决方案参考设计CN0584/5系列。该方案针对实时控制和硬件在环 (HIL) 仿真等对延迟极度敏感的应用,实现了从模拟输入采样到模拟输出复现端到端约200纳秒的超低延迟,同时保证了信号的高保真度。方案提供多通道模拟输入输出,并集成保护功能。


最后面对半导体测试等领域对数字控制环路的SMU日益增长的需求,ADI推出了这款支持+/-100V电压、+/-1A电流(多量程可选)、并可并联扩展电流能力的四通道数字化SMU参考设计,它集成了ADI最新的高精度ADC、DAC及高压放大器等关键器件,为客户开发高性能SMU产品提供了一个可靠、可加速开发进程的起点。


总体而言,ADI通过提供这些高度集成、经过验证的模块化解决方案和参考设计,旨在降低客户的设计门槛,缩短研发周期,助力其在竞争激烈的测试测量市场中赢得先机。


(本文摘录自 ADI)

关键词:ADI 仪器仪表测量
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来 源:ADI
编辑:清风
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