随着高速光通信的快速发展，光的偏振特性越来越受到重视，尤其在密集波分复用中使用的无源光器件都具有偏振相关损耗，传统的插入损耗测试方法很难准确表征器件的损耗；另外，在分布式光纤传感中，偏振扰动会将相干后的待测信号淹没。为了有效解决以上问题，电科思仪实现光扰偏技术突破，推出全新Ceyear 85200B光扰偏器，该产品具有扰偏速度快、扰偏效果好、成本低等多种优点。典型指标包括：扰偏速率＞1.2MHz；扰偏后偏振度＜5%；产品可工作在O波段和C波段。

图 1 Ceyear 85200B光扰偏器实物图

1、光扰偏器的工作原理

用较高的速度不断改变输入光的偏振态，在一段时间内，偏振态均匀覆盖整个邦加球，在该时间窗口平均后，作用效果等效为非偏振光，进而消除偏振抖动对测试的影响。改变偏振态的方法一般基于弹光效应或电光效应，Ceyear 85200B光扰偏器基于前者，采用全光纤方案，具有低插入损耗和低偏振相关损耗优点。

2、光扰偏器的核心指标

扰偏后偏振度，表征经过光扰偏器的光在邦加球覆盖的均匀程度。偏振态稳定的光在邦家球的球面上表示为一个不动的点，该光经过光扰偏器，在短时间内偏振态布满整个球面，偏振态在邦加球覆盖的越均匀，说明光扰偏器扰偏效果越好，如图2。

图 2Ceyear 85200B光扰偏器扰偏效果示意图

3、在光芯片生产过程插入损耗测试应用

利用常规方法测试硅光芯片的插入损耗，由于芯片固有的偏振相关损耗，测试结果受输入光偏振态影响大，重复性差。使用Ceyear 85200B光扰偏器对入射光进行扰偏后再进行测试，能够准确测得待测件的平均插入损耗，降低偏振态变化对测试结果的影响。图3为该模块利用本公司Ceyear 9951A光波测试平台，并搭配平台可选光源、光开关和光功率计等模块，实现的硅光芯片插入损耗测试一体化平台实物图。基于Ceyear 9951A光波测试平台，选配多种可插拔光电测试模块，还可实现多种其余光电测试方案定制开发。

图 3光芯片插入损耗测试平台框图和实物图

4、光纤传感中偏振扰动抑制应用

在光纤传感领域，尤其涉及相干光纤传感领域，传感系统的偏振扰动会在相干过程中叠加到信号中，降低信噪比，甚至将待测信号淹没。将Ceyear 85200B光扰偏器插入相关光路中，在一段时间内累加平均，可降低偏振扰动对系统的影响，增强系统抗干扰能力，如图4为加入光扰偏器前后测试结果的对比。

图 4光扰偏器在相干光纤传感领域应用效果示意图

关键词:电科思仪 Ceyear 85200B 光扰偏器

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来 源：电科思仪

编辑：清风

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