微小目标、瞬时温差、手动记录难追踪……在研发项目中，温度变化往往是成败的关键。但传统测温方式，真的能帮你捕捉到那“0.03秒的异常”吗？
作为研发工程师，你知道测试数据必须精准，但——
热图是否清晰可辨？
温度曲线是否还要手动画进Excel？
测试条件能否复现、参数是否可固化？
如果这些问题你还要“想一想”，是时候换一套工具了。Fluke TiS75 PRO 热像仪，专为研发场景打造！
TiS75 PRO 如何解决研发测试中的三大痛点？
1、微小目标 + 细节温差，清晰可见
研发中常常涉及小尺寸元件或局部热点，传统点温仪或低分辨率热像仪难以捕捉。TiS75 PRO 提供384高分辨率成像，超分辨率配合1-4倍数字放大，让微小目标的温度分布一目了然。
TiS75PRO 拍摄的电路板发热图像
电路板对应可见光图像
2、远程控制 + 一键趋势报告，让精力回归分析
你是否还在把时间花在导出数据、画Excel温升曲线上？TiS75 PRO 标配专业软件，支持：
远程控制：数据流实时测试分析，适合长时间记录，解放双手
热像仪使用固定支架监测温度
连接电脑软件实时分析温度曲线
一键生成趋势报告：自动输出温升曲线，无需手动整理
参数固化 + 一键调用：同类测试标准化，保证数据一致性
将电路板测试参数预设保存，重复测试一键选择
3、30Hz高帧频，锁定0.03秒的瞬态异常
某些研发场景中，温度变化在毫秒之间。TiS75 PRO 支持 30Hz 高帧频采集，帮助你捕捉瞬时异常。
不再错过任何一个可能影响产品可靠性的关键温度事件。
丰富型号 精准匹配您的场景
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