伴随着光通信技术的快速发展，硅光芯片、光器件、光模块及中短距离光通信网络（如机载、车载光网络）的精确故障定位与诊断，已成为研发人员工作中的瓶颈。上述场景对测试设备分辨率、灵敏度要求较高。为解决该难题，“思仪科技”推出了基于OFDR（光频域反射技术）的微米级光纤链路测试方案。

图 1  微米级光纤链路测试方案

本方案攻克了偏振衰落效应抑制技术、扫频非线性补偿技术、事件分析技术等难题，能够以20微米空间分辨率探测链路内部构成，单次扫描即可获取损耗曲线，最短测量时间仅需5秒。本方案可快速精确的提供各器件插回损、位置等关键信息，真正做到芯片级“可视化”。

a 全局视图

b 标记处局部放大

图 2  可调光衰减器模块测试效果

a 全局视图（红色：非导通状态，蓝色：导通状态，下同）

b 标记处局部放大

图 3  光开关模块测试效果

图2、图3为本方案实际测试效果图。凭借着微米级分辨率与高灵敏度的优势，图中测试曲线清晰反映了可调光衰减器模块、光开关模块内部密集的事件点（熔接点、耦合器、特殊结构等）。结合事件分析技术，微米级光纤链路测试方案能够对事件点进行自动检测，辅助用户精确定位故障位置，并获取关注区域插回损。对待测链路多次测量，长度测试重复性小于100微米。

思仪科技开发的微米级光纤链路测试方案可广泛应用于各类光通信器件的研发、生产领域，大幅提高用户测试效率，降低测试成本。同时本方案扩展性强，可根据用户实际需求添加功能模块、定制系统软件。思仪科技持续关注光电测试需求，致力于为用户提供优质的产品和服务，期待与您的合作。

关键词:思仪科技 微米级光纤链路 测试方案

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来 源：思仪科技

编辑：清风

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