随着社会对流量的爆发式需求，光通信速率已经步入1TBit/s门槛，光通信系统中光器件的波长相关损耗（WDL）和偏振相关损耗（PDL）的影响不容忽视，如何降低测试成本和难度，增加测试速度和精度越来越成为测试人员关注的焦点。针对WDL和PDL的参数快速测试难题，“思仪科技”最新开发了波长快速扫描测试方案（图1）。

图 1  波长快速扫描测试方案

本方案结合公司自主研发的6317A可调谐激光源、9951A光波测试平台，集成相关算法，优化了波长快速扫描测试。关于WDL的测试方法行业通用，但是PDL不同测试方法有不同适用场景（如下表所示），综合各测试方法的特点，穆勒矩阵法更适合 PDL波长特性的测试，因此本方案采用穆勒矩阵法。

通过实际的测试验证，“思仪科技”的波长快速扫描测试方案能够快速、准确地给出的WDL、 PDL测试结果，该方案体积小，集成度高，测试仪器由多台精简到两台，并可根据测试对象、测试需求扩展光衰减器、光开关等模块，降低了测试成本50%以上。方案最小采样时间可以达到10μs，准确度(典型值)可以高达 ±0.02dB（测试效果图2所示）。

图 2 波长快速扫描测试软件（可定制）

“思仪科技”开发的波长扫描快速测试方案可以快速完成光器件的WDL和PDL测试，可光广泛应用于波分复用模块（DWDM、CWDM）、波长选择开关（WSS）和集成光芯片的研发、生产和测试，同时该方案编程控制方便，可根据实际需求定制软件并集成，实现一机灵活多用。波长快速扫描测试方案指标如下：

·工作波长：1480nm～1610nm

·扫描速度：1nm/s~200nm/s

·最小采样时间：10μs

·PDL准确度(典型值)：±(0.02+3% PDL) dB

·PDL重复性(典型值) ：±0.01dB

·WDL准确度(典型值) ：±0.02dB

·WDL重复性(典型值) ：±0.01dB

关键词:思仪科技 光器件 测试方案

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来 源：思仪科技

编辑：清风

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