讲座内容简介

微波芯片主要包括微波功率放大、低噪声放大、混频变频、开关、滤波等单片或MMIC芯片。芯片的在片（On-Wafer）测试是芯片设计和应用环节的重要步骤。

随着国内芯片需求扩大和第三代半导体技术的蓬勃发展，芯片的高频、大信号、超宽带、高线性等性能要求逐渐提高，尤其在芯片设计环节，准确的测试数据是突破上述技术的瓶颈问题之一。目前，微波芯片测试诸多难题正困扰着一线技术人员：在片测试系统平台框架与仪器设备的互相兼容性不高、集成后的系统测试效率难以再提升、提高测试的关键技术难以突破……

电科思仪聚焦问题的解决而推出成熟的微波芯片在片测试解决方案。讲座重点针对微波芯片设计环节，介绍解决方案组成和新一代核心仪器，同时分享典型的解决方案应用案例。敬请期待！

讲座嘉宾

杨保国

研究员、博士、微波毫米波矢量网络分析仪器测试专家

讲座时间

2022年11月11日（周五） 15：00-16：00

讲座预约

活动三重“福利”

1.幸运观众奖：讲座中抽取幸运观众10位。

2.最佳互动奖：讲座中最佳互动观众5位。

关键词:思仪云课堂 微波芯片 测试解决方案

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来 源：电科思仪

编辑：清风

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