太阳能硅片自动分检系统根据客户的实际需求，整合上下游企业的相关需求，为太阳能硅片生产企业提供了完整的检测解决方案，降低了硅片检测成本，为企业创造价值。

 【产品描述】
      该系统可对太阳能硅片的电性能、几何尺寸、外观缺陷进行全自动分拣，硅片生产企业应用此系统，替代以往人工检测方式，大大提高了检测效率，充分满足了硅片使用厂家的质量要求，同时降低了该企业和下游企业的整体质控成本，提高了客户在行业的竞争力。
 

      产品外观

        硅片分检

【基本原理】
      系统整体采用非接触测量方式，通过在流水线中设置五个工位，分别实现硅片各个参数的检测。其中，电阻率、厚度、TTV、P/N型号、Bow/Warp采用电涡流法和电容法实现非接触自动检测；轮廓尺寸采用机器视觉技术实现；隐裂、孔洞缺陷通过红外视觉技术实现；表面脏污缺陷通过机器视觉技术并辅以特殊设计光源实现；线痕缺陷通过光针扫描技术实现。

【规格指标】
       （1）能够适应三种规格单晶硅片检测需求，包括6吋（边长125mm×125mm，对角线150mm）、6.5吋（边长125mm×125mm，对角线165mm）、8吋（边长156mm×156mm，对角线200mm）；

(2）能够检测硅片各种缺陷，包括电阻率、厚度、TTV、P/N、线痕、几何尺寸、脏污、孔洞、隐裂、BOW/WARP；

【解决方案价值对照表】

【应用扩展】
   此解决方案经适量修改，也可适用于太阳能电池板、多晶硅、单晶硅检测等。